FEI的 Tecnai Osiris 透射电镜为分析速度设置新标准

2016-04-22新闻资讯

做为原子级成像和分析系统的主要供应商,FEI 公司最新发布Tecnai Osiris扫描/透射电镜,该款电镜在分析速度和表现上有着革命性的意义。内置新的ChemiSTEM 技术,它能把大视野下元素成像的时间从小时降到分钟级别。

 

 

Tecnai Osiris结合这个突破性进展和容易使用的特点,来迎合高通量化的工业用户和多用户实验室的要求。正申请专利的ChemiSTEM技术使Tecnai Osiris在EDX元素绘图时的技术明显提高了。

FEI市场部的高级副总裁补充说:“我们的研究和工业用户越来越重视所有样品的元素成分分析和成像,Tony Edwards能够满足需要。直到现在,没有其他的S/TEM可以拥有这样的分析速度和易操作性。”

Edwards 还说:“Tecnai Osiris的出现填补了市场上对大视野元素成像从小时级到分钟级的空白,同时不需要对操作者进行复杂分析的培训。 ”

 在工业应用上Tecnai系列一贯拥有高品质和可靠性的名声,Tecnai Osiris是一款200 kilovolt (kV) 的S/TEM,它延续了Tecnai的传统,同时增加了包括ChemiSTEM、 MultiLoader、新FS-1能量损失计等在内的多个创新技术,另外还有SmartCam远程控制相机、长寿命液体氮供应等特点。

Edwards说:“在一个可靠的、有多种用途的S/TEM上,如果还要求非常高的分析速度、容易使用等特点时,Tecnai Osiris将是最理想的解决方法。”